واژه نامه تخصصی طیف سنجی

واژه نامه

R

Q

P

O

N

L

J

I

H

G

F

E

D

C

B

A

skew

انحراف، اصطلاحی است که به تغییرات سیستماتیک در خوانش ادوات آزمایشگاهی در مقایسه با استاندارد‌های آزمایشگاهی اطلاق می‌گردد.
به بیان دیگر کمترین و بیشترین میزان انحراف در حدود بالا و پایین اندازه‌گیری، یک دستگاه اندازه‌گیری آزمایشگاهی.
همچنین از این واژه برای بیان شیب در داده‌های دو بعدی نیز استفاده می‌شود.

slit

شکاف، در اسپکترومترهای پاشنده تصویر شکاف بر روی آشکارساز منتقل می‌گردد و شکاف، پورت ورودی نور به درون سیستم است. هر چه شکاف عرض کمتری داشته باشد میزان تفکیک‌پذیری اسپکترومتر نیز بالاتر است.
شکاف‌ها با عرض های چند میکرونی تا چند ده میکرونی مرسوم هستند و بوسیله لیزرهای دقیق بر روی صفحات فلزی ایجاد می‌گردند.

slope

شیب، هم معنی واژه skew است. با این تفاوت که وقتی میزان انحراف معلوم و شناخته شده باشد از این واژه استفاده می‌گردد

smoothing

صاف‌سازی، استفاده از این اصطلاح در داده‌های طیف سنجی به چندین فرآیند می‌تواند اطلاق گردد:
۱- برای بهبود نمایش طیفی
۲- برای کاهش و یا حذف نویزهای طیف
۳- برای کاهش تفکیک‌پذیری یک طیف جهت مقایسه با یک طیف دیگر که با تفکیک‌پذیری متفاوتی ثبت شده است.
۴- برای حذف عوامل تصادفی و سیستماتیک در ثبت طیف

صاف‌سازی از طریق حذف تغییرات شدید تصادفی، امکان نمایش بهتر طیف و انجام آنالیزهای چندمتغیره را فراهم می‌نماید.
پراستفاده‌ترین الگوریتم های صاف‌سازی شامل تبدیل فوریه از طیف (FT, FFT)، متوسط‌گیری (‌BOXCAR) و روش صاف‌سازی Savitzky-Golay است.

solvent

مایعی که برای حل شدن نمونه مورد آنالیز از آن استفاده می‌شود. معمولا آب و متانول خالص، مرسوم‌ترین حلال‌های آزمایشگاهی هستند.
حلالهای مخصوص طیف‌سنجی با عناوینی همچون : spectrophotometer quality
spectro-quality یا spectro-gradeمشخص می‌گردد.
در طیف سنجی رامان مرسوم ترین حلال آب خالص است.

source

منبع، یک تابشگر انرژی الکترومغناطیسی است که انرژی لازم برای انجام آزمایش‌های طیف‌سنجی را فراهم می آورد. نور تولید شده توسط منبع در نواحی متفاوتی از طیف الکترومغناطیسی قرار دارد.
منابع تابش حرارتی برای تولید نور پیوسته در بازه مرئی تا فروسرخ، لامپ‌های قوس الکتریکی زنون و دوتریوم برای تولید نور در ناحیه فرابنفش و لیزر‌های تک طول‌موجی در نواحی مختلف برای طیف سنجی رامان به عنوان منابع نوری در طیف سنجی بکار گرفته می‌شوند.

Spatially offset Raman spectroscopy (SORS)

در این روش طیف سنجی رامان نقطه جمع‌آوری نور پراکنده شده رامان، از نقطه محل فرود نور لیزر فاصله دارد. این اختلاف مکانی باعث می‌شود پراکندگی های رامان پخش شده در عمق ماده آشکارسازی و تحلیل شوند.
با جمع آوری و مقایسه طیف دریافت شده در نقاط مختلف می‌توان اطلاعاتی از عمقهای مختلف ماده را بدست آورد. این آنالیزها شامل آنالیزهای چندمتغیره بر روی طیف‌های دریافت شده است.

Spectral energy units

واحد انرژی طیفی، انرژی در طیف سنجی مولکولی و اتمی با واحدهای مختلفی بیان میگردد، استفاده از طول موج فوتون بری بیان انرژی آن با واحد میکرون (m)1/10^6 ، نانومتر (m)1/10^9 و آنگستروم (m)1/10^10 مرسوم است.

انرژی همچنین بر حسب فرکانس فوتون با واحد هرتز (Hz)، با واحد عکس طول‌موج (cm^-1) و همچنین الکترون ولت (eV) نیز بیان می‌گردد. در طیف سنجی رامان انرژی بر حسب اختلاف در عدد موج (اختلاف طول موج تابش شده و پراکنده شده) و بر حسب (cm^-1) بیان می‌گردد.

Spectral matching

تطابق طیفی، فرآیند شباهت سنجی طیف دریافت شده از یک نمونه در آزمایش و طیف استاندارد ثبت شده در کتابخانه برای شناسایی یا دسته بندی را گویند. در این فرآیند یک الگوریتم ریاضیاتی توسط رایانه طیف نمونه مجهول را با تک تک طیف های ثبت شده در کتابخانه مقایسه می‌نماید.

Spectral reconstruction

بازسازی طیفی، استفاده از الگوریتم های ریاضیاتی جهت استخراج طیف مواد تشکیل دهنده یک نمونه ترکیبی را گویند. در بازسازی طیفی همواره دو شرط باید رعایت گردد:
۱- میزان مشارکت هر جز (غلظت) در ترکیب با وزن‌های ریاضی هر طیف تطابق داشته باشد.
۲- و اجزا با یکدیگر همبستگی نداشته باشند (واکنش ندهند و ماده جدید ایجاد نکنند)
در صورتی هبستگی بین دو جزء ایجاد گردد، تاثیر این همبستگی به شکل یک باند جذبی در طیف بازسازی شده نمایان خواهد شد.

Spectrophotometer

اسپکتروفتومتر، دستگاهی است که برای اندازه‌گیری و ثبت طیف جذبی مواد در یک ناحیه طول موجی بکار گرفته می‌شود. گاهی این دستگاه را اسپکترومتر نیز می خوانند اما واژه درست برای این دستگاه اسپکتروفتومتر است.
این دستگاه به گونه‌ای طراحی شده است که تغییر طیف نمونه (I) نسبت به طیف رفرنس (I0) را اندازه‌گیری نماید. (I/I_0 )

Spectrum

طیف، طیف کوتاه شده طیف الکترومغناطیسی است. یک سری عددی از طول موج های متعلق به یک ناحیه الکترومغناطیسی است. به عنوان مثالی طیف مرئی یک سری از طوی موج هایی است که رنگ‌ها (۳۸۰ – ۷۰۰ نانومتر) را شامل می گردد.

در طیف سنجی واژه طیف، به نوع پدیده‌ای که سیستم اندازه‌گیری می‌کند دلالت خواهد داشت، به عنوان مثال یک طیف جذب ثبت شده توسط دستگاه:
نسبت شدت طول‌موج‌های عبور کرده یا بازتاب شده از نمونه به شدت طول موج اولیه تابش شده به نمونه است (I/I_0 ). وقتی این نسبت برای یک سری طول موج رسم شود طیف جذب بدست خواهد آمد.

در طیف رامان، شدت پراکندگی هر فوتون استوکس یا آنتی استوکس ثبت می‌شود، سپس اختلاف عددموج فوتون پراکنده شده نسبت به فوتون تابشی و شدت آن به شکل یک زوج (Δν ̅ ,I) در نمودار ثبت می‌گردد. رسم یک سری از این نقاط برای همه فوتون های پراکنده شده، طیف رامان را تشکیل می‌دهد.

در طیف فلورسانس پس از تابش نور تحریک بر نمونه، یک دسته فوتون ثانویه که طول موجی متفاوت با طول موج تحریک دارند (معمولا بزرگتر) خلق می شوند. رسم طولموج‌های تابش ثانویه بر حسب شدت هایشان، طیف فلورسانس را بوجود می آورد.

Spontaneous Raman spectroscopy

طیف‌سنجی رامان خودبه‌خودی، از این اثر همچنین به عنوان طیف سنجی رامان میدان دور (Far Field) نیز یاد می‌شود. این اثر هنگام تحریک با لیزرهای پیوسته رخ می دهد.

در این اثر کلاسیک رامان حدود ۰.۰۰۱ درصد از انرژی لیزر به فوتون های رامان تبدیل می‌شوند.
در اثر رامان خودبه‌خودی نوسانگرهای تحریک شده در نقطه کانونی لیزر، به شکل خودبه‌خودی و غیر همدوس تابش رامان می‌کنند.
طیف رامان به دست آمده، یک جمع از تابش همه نوسانگرهایی است که بدون رابطه فازی و شکل غیر همدوس برهم‌نهی شده‌اند.
در مقابل پدیده گسیل خودبه‌خودی رامان پدیده گسیل همدوس امان قرار دارد.

Standard deviation

انحراف معیار، یک اندازه‌گیری از میزان پخش داده‌‌ها حول مقدار متوسط داده‌هایی که دارای واحد یکسان هستند. انحراف معیار برای داده‌ها با فرمول زیر محاسبه می‌گردد:

Standard deviation

Standard error of cross validation (SECV)

خطای استاندارد اعتبارسنجی متقابل، یک اندازه‌گیری از خطای برآورد است، که در محاسبه آن یک دسته از داده‌ها برای تولید کالیبراسیون و بخشی از نمونه‌ها برای تأیید کالیبراسیون در نظر گرفته می‌شود. سپس این کار با یک گروه دیگر از داده ها برای کالیبراسیون و بخشی نیز برای تست تکرار می‌شود. طی چند مرحله خطاها محاسبه و میانگین گرفته می‌شوند.
این عملیات به طور کلی یک فرایند خودکار است که در آن برخی از نمونه ها از کالیبراسیون خارج می شوند تا در محاسبه خطای پیش‌بینی استفاده شوند. SECV معمولاً تخمین پایینی از خطای پیش‌بینی واقعی است. زیرا در این روش اکثر نمونه‌های تست و مجموعه مورد استفاده برای کالیبراسیون و اعتبار سنجی کاملاً مشابه هستند.

Standard error of estimate (SEE)

خطای استاندارد برآورد، یک اندازه‌گیری از میزان اختلاف انحراف معیار مربوط به داده‌های کالیبراسیون و داده‌های اندازه‌گیری شده توسط دستگاه.
در واقع کالیبراسیون بدست آمده از معادله رگرسیون، برای تست داده‌هایی که معادله رگرسیون را تشکیل داده اند در این حالت استفاده می‌شوند.

Standard error of prediction (SEP)

خطای استاندارد پیش بینی، یک معیار از میزان دقت دستگاه در اندازه‌گیری است. که در آن پس از بدست آوردن معادله کالیبراسیون، از داده‌هایی در تست کالیبراسیون استفاده می‌شود که در محاسبه معادلات رگرسیون استفاده نشده‌اند.

Standard normal variate (SNV)

روش SNV یک روش در پیش پردازش داده‌های طیفی است. این روش برای کاهش گرادیان طیفی بکار برده می شود، معمولا بر روی سری های طیف های فروسرخ و DRS اعمال می شود. این الگوریتم بر روی هر طیف بهطور جداگانه اعمال می شود. ومیتوان آنرا هم روی طیف های مورد استفاده در کالیبراسیون و هم طیف های مورد استفاده برای پیش بینی اعمال نمود. این پردازش بر روی تک تک داده‌ها در طیف اعمال میشود و رابطه ی آن به شکل زیر است:
Standard normal variate (SNV)
در محاسبه این مقدار از مقدار متوسط و انحراف معیار بهره گرفته می شود.

Standard reference material

مواد ثبت شده تجاری در موسسه استاندارد و تکنولوژی ملی آمریکا هستند، که با دقت بسیار بالا مشخصات انها اندازه گیری شده است و برای کالیبراسیون تجهیزات مانند اسپکتروفتومتر و سایر دستگاه های آنالیزی مورد استفاده قرار می گیرند.

Standardization

استاندارد سازی، روش استانداردسازی مستقیم (Direct Standardization-DS) و استاندارد سازی مسقیم تکه‌ای (piecewise Direct standardzation-PDS) روش های مرسومی هستند که در فرآیند استانداردسازی دستگاه ها مورد استفاده قرار می گیرند.

روش‌های DS و PDS گاهی به همراه برخی تصحیحات برای مقدار پیش بینی شده استفاده می شوند تا خطاهایی که در این روش ها تولید می شود، را بهبود بخشند.

Stand-off detection

تشخیص از راه دور، روش های اندازه گیری که درآن ها نمونه در فاصله نسبتاً دوری از اداوت اندازه گیری قرار دارد. در این روش ها نیازی به “تماس با نمونه” وجود ندارد.

غالبا در مواردی که اندازه گیری از یک نمونه خطرناک مانند مواد منفجره، مواد هسته ای یا نمونه‌های سمی مد نظر است. از این روش ها استفاده میشود.
استفاده از این روش ها در اکتشافات فضایی نیز بسیار مرسوم است.
و غالبا از طیف سنجی های لیزر پایه در این روش ها استفاده می شود.

Step-up search

جستجوی افزایشی، رهیافت پیدا نمودن بهینه ترین طول موج‌های لازم برای معادلات رگرسیون خطی در مدل‌های کالیبراسیون طول موج

Stimulated Raman

پدیده رامان القایی، یک روش طیف سنجی رامان است که در آن دو پالس لیزر با طول موج مرکزی متفاوت با کنترل قطبش ها (موازی یا عمود) به طور همزمان به نمونه برخورد می‌کنند.
هنگامی که اختلاف طول موج مرکزی لیزرها با یک گذار ارتعاشی مشخص در نمونه برابر باشد، سیگنال رامان تقویت خواهد شد.
قطبش پالس های لیزر، به طور موثری راستای مولکولها و مشخصات جهت گیری فضایی نمونه را مشخص می کند.

Stimulated Raman spectroscopy (SRS)

طیف سنجی رامان القایی، در طیف سنجی رامان القایی از لیزرهای پالسی پرتوان (برخلاف لیزرهای پیوسته در روش رامان مرسوم) استفاده می شود.
صرف استفاده از پالس های لیزر پرتوان باعث تقویت سیگنال پراکندگی رامان تا ۴۰-۵۰ درصد انرژی تحریک لیزر، خواهد شد.
با در نظر گرفتن اثر رامان القایی، در مجموع تقویت سیگنال نسبت به حالت گسیل خود‌به ‌خودی رامان از مرتبه حدود ۴^۱۰ خواهد بود. که این باعت تقویت سیگنال به نویز در طیف خروجی خواهد شد.

Stokes shift

شیفت استوکس، عبارت است از پراکندگی‌هایی که طول موج پراکنده شده رامان در آن، بیشتر از طول موج تحریک اولیه باشند.
Raman effect را ببینید.

Stray light

نورهای سرگردان، نورها و تابش‌هایی که در مسیر طراحی شده برای طول موج های تحت اندازه‌گیری به آشکارساز نمی رسند.
این تابش ها در برخورد های متوالی به سطوح داخلی، المان های اپتیکی، نگه دارنده ها و بدنه دستگاه خود را به شکل تصادفی به آشکارساز می رسانند و باعت نوعی اختلال در اندازه گیری می شوند.

در مورد طیف سنجی رامان، بیشتر نورهای سرگردان از تابش ریلی یا همان طول موج لیزر تحریک ایجاد می شوند.

Striking a sample

مسطح نمودن سطح نمونه های پودری یا دسته ای از نمونه های ریز، جوری که هندسه سطح، یک صفحه صاف باشد.

Structured query language (SQL) database

SQL یک برنامه برای ساخت و دسترسی به داده‌ها است. بوسیله این زبان برنامه نویسی می توان به راحتی داده ها را طبقه‌بندی نمود و به آنها دسترسی داشت.

Sum of squares

جمع مجذورها، به معنی جمع مجذور یک سری از پارامترهای عددی در ریاضیات است.
از این پارامتر در محاسبه خطاهای اندازه‌گیری و همچنین معادلات رگرسیون بهره گرفته می شود.

Surface enhanced Raman spectroscopy (SERS)

طیف سنجی رامان تقویت شده سطحی (SERS)
در روش SERS نانوذرات فلزی (معمولا نانوذرات طلا یا نقره) در مجاورت نمونه قرار می گیرند و به واسطه ایجاد میدان ‌های الکتریکی پر شدت (پدیده پلاسمونیک) در روی نمونه باعث تقویت سیگنال رامان از نمونه خواهند شد. میزان تقویت در این روش نسبت به حالت مرسوم رامان از مرتبه ۱۰^۱۰ خواهد بود.
این میزان تقویت به حدی بالاست که امکان شناسایی نمونه ها با مقادیر بسیار کم (ppm یا ppb) را بوجود می آورد. امکان آنالیز سلول‌ها ار کاربردها بیولوژیکی این روش است.
تعداد بسیار زیادی از پژوهش ها بر روی مواد، کاربردها و بهبودهای روش SERS تاکنون انجام شده است.

Surface enhanced resonance Raman spectroscopy (SERRS)

طیف سنجی رامان تقویت شده سطحی رزونانسی SERRS
در این روش دو تکنیک SERS و RR باهم ترکیب می‌شوند. یعنی طول موج لیزر تحریک بر پیک جذبی طیف UV-VIS نمونه انطباق دارد و علاوه براین نمونه در مجاورت نانوساختارهای تقویت کننده سیگنال رامان قرار گرفته است.
این روش باعت تقویت مجدد علاوه بر SERS خواهد شد.

Surface-enhanced spatially offset Raman spectroscopy (SESORS)

طیف سنجی رامان تقویت شده سطحی با جابجایی مکانی SESORS
در این تکنیک دو روش SERS و SORS با هم ترکیب می‌شوند. در بکارگیری این روش با استفاده از اپتیک سیستم های تصویرگیری از چند نقطه نمونه طیف‌گیری می‌شود. در فرآیند طیف‌گیری از چند نقطه، نانو ذرات تقویت کننده سیگنال رامان نیز در کنار نمونه حضور دارند.

Surface plasmon polariton enhanced Raman spectroscopy (SPPERS)

طیف سنجی رامان تقویت شده سطحی با پلاسمون پلاریتون SPPERS
در این تکنیک طیف سنجی رامان از یک لنز استوانه‌ای کوچک، برای تحریک میدان نزدیک (Near Field) نمونه‌های ریز و لایه نازک که روی لنز لایه نشانی شده اند استفاده می شود.
در این روش ناحیه اندازه گیری، مساحتی از مرتبه ۱۰۰μm^2 و ضخامتی در مرتبه چند نانومتر دارد.
در این روش برای آشکارسازی سیگنالهای تقویت شده در این ناحیه اندازه گیری، از اپتیک مخصوصی برای تحریک و جمع آوری سیگنال استفاده می شود.

Teaching set

عبارتی معادل مجموعه کالیبراسیون دسته ای از داده‌ها که برای کالیبراسیون استفاده می شوند.

Terahertz

تراهرتز، ناحیه ای از طیف الکترومغناطیسی که بین ۱۱^۱۰×۳.۰_۱۳^۱۰×۱.۲ هرتز (Hz) است را می گویند. و گاهی نیز این ناحیه را فروسرخ دور می‌نامند.
در طیف سنجی رامان ناحیه تراهرتز به ناحیه از طیف اطلاق می گردد که نزدیک مبدا طیف رامان باشند (شیف های رامان کوچک). این ناحیه متناظر با گذارهای کم انرژی ارتعاشی در مولکول هستند.

Tip enhanced Raman spectroscopy (TERS)

طیف سنجی رامان تقویت شده پراب TERS
در این نوع طیف سنجی روش طیف سنجی رامان با روش های SPM (Scanning Probe Microscope) همانند AFM ترکیب می گردد.
در این تکنیک از یک پراب AFM با اندازه ۱۰ تا ۲۰ نانومتری برای توپوگرافی سطح و طیف سنجی رامان تقویت شده استفاده می شود. مکانیزم تقویت سیگنال رامان همانند SERS میدان های چگالیده الکتریکی پلاسمونیکی هستند، با این تفاوت که در TERS به جای استفاده از نانوذرات کلوئیدی از یک سوزن فلزی با ابعاد نانو برای تقویت سیگنال رامان بهره گرفته می شود. پراب نانومتری در هر نقطه، در مجاورت نمونه که قرار گیرد، لیزر تحریک با تابش بر نوک پراب یک ناحیه با میدان های تقویت شده ایجاد خواهد کرد که باعث تقویت و ثبت سیگنال رامان می شود.

Tracer

شناساگر، یک شناساگر (که با عناوینی از جمله استاندارد فوتومتریک یا استاندارد داخلی نیز نامیده می شود،) به نمونه هایی که برای کالیبراسیون در آنالیزهای کمی مورد استفاده قرار میگیرند اضافه می شود. سیگنال رامان شناساگر برای نرمالیزه کردن نمونه هایی با غلظت متفاوت مورد استفاده قرا می گیرد.

Transform

تبدیل، عملیات ریاضی که یک تابع با یک متغیر را به یک تابع یکتا با متغیر دیگر تبدیل میکند. از مرسوم ترین تبدیلات میتوان به تبدیل لاپلاس یا تبدیل فوریه اشاره نمود.

Transmission

انتقال انرژی موج الکترومغناطیسی از یک محیط با ضریب شکست مشخص را گویند. در اپتیک معمولا به عبور نور از المان ها اپتیکی (شیشه) یا هوا اطلاق می گردد.

Transmittance

ضریب عبور، T به ضریبی اطلاق می گردد که نشان دهنده نسبت نور راه یافته (I) به درون ماده در مرز ماده، در مقایسه با میزان نوری است که در ابتدا به مرز برخورد نموده است(I0). T=I/I_0
مقدار ضریب را بین ۰ تا ۱۰۰ درصد یا بین صفر تا ۱ بیان می کنند و بیشتر در طیف سنجی های جذبی-عبوری و فروسرخ کاربرد دارد.

Truncate

در طیف سنجی به عمل برش و برداشتن یک تکه از طیف برای انجام محاسبات ریاضیاتی و پردازش طیفی گویند. و بیشتر در محاسبات فوریه برای بالابردن سرعت پردازش مورد اسفاده قرار می گیرد.

t-test

به نسبت اختلاف یک اندازه گیری یا پیش بینی به میزان تخمین زده شده توسط خطای استاندارد آن پارامتر گویند. کاربرد این عملیات در تعیین میزان تصادفی بودن یا نبودن تغییرات یک اندازه گیری است. برای این کار آزمون t-test با مقادیر t-distribution مقایسه می گردد. این تعریف آماری در خلال آنالیزهای رگرسیون اجازه می دهد تا نقش یک فرکانس یا طول موج در یک طیف با ضریب رگرسیون آن در مدل مشخصی عیان گردد.

Two dimensional (2D) correlation spectroscopy

طیف سنجی همبستگی دو بعدی، به ترکیب اطلاعات دو طیف که منجر به ایجاد یک داده جدید که از روی محاسبه میزان همبستگی این دو طیف محاسبه می گردد، اطلاق می شود.
در اندازه گیری های دو بعدی، این داده جدید اطلاعات مفیدی درباره نمونه هایی که در نقاط مختلف دارای فشار یا دمای متفاوت هستند ارائه می کند.
همچنین می توان از این تکنیک برای ترکیب طیف های یک نمونه در دو ناحیه طیفی (به عنوان مثال: ناحیه NIR و IR) یا ترکیب طیف های رامان با طیفIR یا هر طیف دیگری استفاده نمود.

Unit conversions for photon energy

تبدیل واحد انرژی فوتون، بیان انرژی فوتون در واحد طول موج، فرکانس یا عدد موج را گویند و با روابط زیر بیان می شود:
عدد موج (cm^-1) به طول موج (nm):

Unit conversions for photon energy
طول موج (nm) به عدد موج (cm^-1):
Unit conversions for photon energy2
طول موج (nm) به فرکانس (Hz):
Unit conversions for photon energy3
طول موج (nm) به eV:
Unit conversions for photon energy4

Variable

متغیر، هر کمیتی که در معادلات ریاضی دستخوش تغییر شده و یک کمیت دیگر را نتیجه دهد. در طیف سنجی و در معادلات رگرسیون مربوط به کالیبراسیون دو نوع متغیر وجود دارد:
متغیر مستقل X: این متغیر شامل طیف های نمونه است و هر پارامتر یا اطلاعاتی که به همراه طیف به عنوان اطلاعات ورودی وارد معادلات می شود.
متغیر وابسته Y: که شامل اطلاعات ترکیبات مواد یا اطلاعات کمی نمونه ها می شود.

Variance

واریانس، جذر انحراف معیار را گویند. این پارامتر در آمار دارای اهمیت ویژه ای است. چرا که همانند جمع مجذورها، میتوان نشان داد واریانس کل مجموع حاصل واریانس ها (خطاها) است.

Voight profile

شکل خط وویت، این شکل خط حاصل ترکیب شکل خط خطوط رامان (لورنتسی) با شکل خط گاوسی است. این پروفایل بهترین تقریب برای شکل خط خطوط اندازه گیری شده در سیستم های طیف سنجی است.

Wavelength

طول موج، انرژی الکترومغناطیسی بوسیله موج های سینوسی در فضا منتشر می شود و فاصله بین دو قله متوالی از این موج سینوسی را طول موج گویند.
در طیف سنجی فاصله این دو قله را برحسب نانومتر یا عدد موج بیان می کنند.

Wavenumber

عدد موج، به عددی که به عکس طول موج اطلاق می‌گردد. در بیان دیگری به تعداد دوره‌های موج در واحد طول (که معمولا سانتی‌متر است) گویند. بنابراین واحد عدد موج (cm^-1) خواهد بود.
در طیف سنجی جذبی UV VIS معمولا از طول موج (nm) استفاده میکنیم. اما در طیف سنجی IR جذبی از عددموج (cm^-1) استفاده می کنیم.
به عنوان مثال ۲۵۰۰ نانومتر معادل (cm^-1)4000 است.

در طیف سنجی رامان نیز از واحد عدد موج برای بیان شیفت رامان بهره می گیریم. از رابطه زیر برای تبدیل واحد بین طول موج و عدد موج میتوان بهره گرفت:

Wavenumber correction

تصحیح محور X یا محور عددموج رامان به طوری که ابتدا با چند نمونه استاندارد و پیک های مشخص طیفی، اعداد روی محور چک می شوند و در صورت داشتن مغایرت، با تنظیم های سخت‌افزاری این خطاها برطرف می‌شوند. تصحیح محور عدد موج در اندازه‌گیری های رامان و IR حساس، بسیار دارای اهمیت است.

Window

پنجره اپتیکی، یک شیشه اپتیکی با سطوح صاف و موازی است که در ورودی اداوات اپتیکی نصب می‌شود. این پنجره ها برای جلوگیری از ورود غبار، رطوبت و سایر آلودگی‌ها به درون سیستم اپتیکی نصب می‌شوند.
پنجره های اپتیکی همچنین برای قرارگیری نمونه در برخی از دستگاه ها استفاده می شود.
در مواردی که ناحیه UV مد نظر است استفاده از پنجره های اپتیکی کوارتز الزامی است. در ناحیه مرئی پنجره های پلیمری را نیز میتوان به کار گرفت. مرسوم نوع پلیمرها پلی‌استایرن و PMMA هستند. برای طیف سنجی های NIR و رامان غالبا پنجره های کوارتز و BK7 مناسب هستند.
در ناحیه IR پنجره های سدیم کلرید، پتاسیم برمید، کلسیم فلوراید، منیزیم فلوراید، باریم فلوراید، کادمیوم تلوراید، نقرع کلرید و ژرمانیوم، زینک سلناید، زینک سولفید، مرسوم هستند.

Working distance (WD)

فاصله اپتیکی عدسی، یکی از مشخصات مهم آبجکتیوهای میکروسکوپ است و عبارت است از فاصله لنز جلویی آبجکتیو تا نمونه.

x-axis

محور X، در کاربرد های طیف سنجی این محور غالبا محور طول موج یا عدد موج یا فرکانس است.

x-shift

شیف محور افقی، هنگامی که یک طیف توسط چندین دستگاه مختلف ثبت شود ممکن است محور افقی این طیف ها در هنگام مقایسه، باهم اختلاف اندکی داشته باشند.
در این زمان محور افقی را جابجا میکنیم تا کمترین اختلاف را داشته باشیم.
این کار با جابجایی طیف روی محور افقی برای منطبق شدن با طیف دیگری است.

x-unit conversion

تبدیل واحد X، تبدیل واحد محور افقی به واحد های اندازه‌گیری دلخواه شامل طول موج، عدد موج، فرکانس، انرژی فوتون و…

y-axis

محور عمودی در طیف، در کاربردهای طیف سنجی این محور غالبا نشان دهنده شدت، پراکندگی و دامنه است.

Zap tool

ابزاری نرم افزاری برای انتخاب و پردازش یک قسمت مشخص از طیف، به طوری که در این حالت سایر قسمت های طیف دچار تغییر نشوند.

Zero filling

به فرآیند اضافه نمودن چندین نقطه داده درون طیف، بین نقاطی که توسط دستگاه اندازه گیری شده است. این فرآیند معمولا قبل از اعمال الگوریتم تبدیل فوریه سریع (FFT) انجام می‌شود. انجام این فرآیند بعث میشود طیف نرم تر به نظر برسد و محاسبه تبدیل فوریه طیف خوش تعریف تری را بدست دهد. در این حالت نمایش ظاهری طیف و دقت فتومتریک نیز افزایش پیدا می کند. نقاط اضافه شده با فرآیند درون یابی به طیف اضافه می شوند. در این حالت قدرت تفکیک طیف دستخوش تغییر نخواهد شد.

z-dimension

راستای Z، در کاربردهای اپتیکی معمولا طول مسیر طی شده توسط نور درون ماده را با این پارامتر نشان میدهند.

Zero path difference (ZPD)

اختلاف مسیر صفر، در تداخل سنجهای اپتیکی معمولا نور در دو کانال هدایت میشود و در نهایت مجددا با هم ترکیب میشوند. در حالت های که طول مسیر اپتیکی طوری باشد که بیشترین تداخل سازنده در درون تداخل سنج اتفاق بیفتد، شرایط ZPD رخ داده است. یعنی طول مسیر اپتیکی دو کانال صفر شده است.